电子制造
X射线工业CT技术能够针对电子制造产品进行无损检测。该技术可全面检出包括电子元器件内部裂纹/异物、BGA 空焊,虚焊,爬锡不合格、芯片包装中焊球的不完整等各类关键工艺缺陷,为产品可靠性提供有效保障。
在检测先进封装领域产品缺陷时,该技术能够实现微米级分辨率成像,清晰呈现TSV/TGV/ubump/RDL中的气泡、断层、线路缺陷,为失效机理分析提供关键依据。针对RDL内部线路,工业CT不仅可发现线路的移位偏移,还能精准判断线路间是否发生桥接短路或对位偏差导致的断路风险。对于ubump/TSV/TGV封装,该技术能够重构焊球的三维形貌,准确识别气泡、断层等连接。









